Tag: obliczenia cp i cpk
-
Pomiar płaskości za pomocą wielowymiarowych jednostek sterujących i przetworników liniowych LVDT
Systemy kontroli wymiarowej i geometrycznej serii MODULCHECK do pomiaru i określania zgodności części mechanicznych i dyskretnych obiektów przy użyciu obiektywnych i łatwych do zarządzania procedur pomiarowych, nawet przez niewykwalifikowany personel.
-
Kontrole wymiarów za pomocą wielowarstwowych jednostek sterujących i przetworników liniowych LVDT
Systemy kontroli wymiarowej i geometrycznej serii MODULCHECK do pomiaru i określania zgodności części mechanicznych i dyskretnych obiektów przy użyciu obiektywnych i łatwych do zarządzania procedur pomiarowych, nawet przez niewykwalifikowany personel.